測試探針的行程怎么選擇呢？

測試探針行程的選擇方法

考慮彈簧壓縮力度相關(guān)行程

在選擇測試探針行程時(shí)，彈簧的壓縮力度分為最大工作行程和建議工作行程是重要的考量因素。在初始位置時(shí)，測試探針不激活，當(dāng)針頭達(dá)到建議工作行程時(shí)，會達(dá)到額定的彈簧力度，由于探針系列不同，建議工作行程介于總行程的66% - 80%之間，在布局測試治具的時(shí)候，建議盡量采用建議工作行程，且絕對不能超過最大行程，因?yàn)槌^最大行程會損壞測試治具和測試裝置（電路板、元件）。

結(jié)合測試場景與對象

半導(dǎo)體IC測試

對于半導(dǎo)體IC測試使用的彈簧探針，行程的選擇要確保探針頂端針頭能與IC的被測點(diǎn)（Pad、Ball等）良好接觸，尾部針頭與被測基板觸點(diǎn)接觸，以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確傳輸一定電流和頻率來判定被測物是否合格，行程需根據(jù)IC的封裝結(jié)構(gòu)、被測點(diǎn)的位置和高度等因素來確定，要保證探針在合理行程內(nèi)能夠穩(wěn)定接觸被測點(diǎn)，同時(shí)避免因行程過大損壞。

電路板（PCB）檢測

電路板（PCB）探針一般與套管配合使用，用于檢測電路板（光板PCB）的導(dǎo)通測試或已貼裝器件的實(shí)物板（ICT\FCT）檢測，行程的選擇要考慮電路板的厚度、器件的高度以及測試時(shí)所需的接觸壓力等，行程過小可能導(dǎo)致接觸不良，行程過大則可能損壞電路板或器件。

參考探針產(chǎn)品特性

探針系列與規(guī)格

不同系列的測試探針具有不同的行程范圍和特性，例如標(biāo)準(zhǔn)行程的測試探針GKS，通過組合測試探針和針套，可以實(shí)現(xiàn)各種安裝高度，在測試夾具中設(shè)置最佳的行程比，在選擇時(shí)，需要根據(jù)具體的測試需求，參考探針產(chǎn)品的規(guī)格說明，選擇合適行程的探針。

針頭形狀與行程適配

不同形狀的針頭在測試時(shí)所需的行程可能不同，例如01針頭、04針頭皇冠針頭、06針頭鋸齒狀針頭，不同的針頭適用于不同的測試點(diǎn)和測試場景，其行程要求也會有所差異。在選擇針頭形狀的同時(shí)，要綜合考慮與之適配的行程，以確保測試的準(zhǔn)確性和可靠性 。

依據(jù)測試設(shè)備與治具

測試設(shè)備和治具的設(shè)計(jì)和性能也會影響測試探針行程的選擇。測試治具的空間結(jié)構(gòu)和布局可能限制了探針的最大行程，因此需要根據(jù)治具的實(shí)際情況來選擇合適行程的探針，以保證探針能夠在治具中正常安裝和使用，同時(shí)，測試設(shè)備的精度和穩(wěn)定性也要求探針行程與之匹配，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性。