
大電流探針如何會提升耐用性?
文章出處:常見問題 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2025-08-29 09:51:00
標(biāo)簽:探針 ICT探針 華榮華大電流探針 JTS420大電流探針 過15A大電流探針
大電流探針可通過選擇合適材質(zhì)、優(yōu)化設(shè)計(jì)、改善使用環(huán)境及規(guī)范操作等方法提升耐用性,具體如下:
選擇合適材質(zhì):
高載流能力探針:根據(jù)實(shí)際需求選擇額定載流能力更高的探針,并預(yù)留20%-30%的安全冗余。如原探針額定載流10A,實(shí)際需20A,則應(yīng)更換為25A及以上規(guī)格的探針。
低電阻率材料:優(yōu)先選用銅合金、黃銅、鈹銅等低電阻率材料的探針,可減少電流通過時(shí)的電阻發(fā)熱,降低因過熱導(dǎo)致的損壞風(fēng)險(xiǎn)。
優(yōu)質(zhì)鍍層:確認(rèn)探針鍍層的導(dǎo)電性和抗氧化性,鍍金、鍍銀等鍍層可降低接觸電阻,增強(qiáng)耐腐蝕性,避免因氧化導(dǎo)致接觸電阻增大,影響探針性能。
優(yōu)化設(shè)計(jì):
改善接觸電阻:確保探針與被測件接觸緊密,可調(diào)整探針壓力,或打磨被測件表面氧化層。同時(shí),選擇針尖面積更大的探針,如平頭、叉指式設(shè)計(jì),或采用多探針并聯(lián)結(jié)構(gòu),增大接觸面積,分
散電流負(fù)載,降低單位面積的電流密度。
加強(qiáng)散熱:在探針基座或測試治具中加入散熱片、導(dǎo)熱硅脂等散熱結(jié)構(gòu),及時(shí)導(dǎo)出熱量。避免在高溫環(huán)境下使用,若條件允許,將測試區(qū)域溫度控制在25℃以下。
合理結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):采用如INGUN大電流探針的活塞分段設(shè)計(jì),降低過渡電阻,減少發(fā)熱量。也可參考長壽命彈性扁平探針的設(shè)計(jì),通過合理設(shè)置彈性部和銜接部,避免局部應(yīng)力集中。
規(guī)范使用與維護(hù):
控制測試時(shí)長:避免長時(shí)間持續(xù)大電流測試,可采用間歇式測試,如每測試10分鐘暫停2分鐘,給探針散熱時(shí)間。
正確安裝操作:安裝時(shí)確保探針垂直伸縮,避免側(cè)面力介入,防止探針內(nèi)部部件受到不均勻應(yīng)力而變形、磨損。嚴(yán)格按照探針推薦的行程范圍進(jìn)行操作,避免過壓使用,以免加速部件磨損。
定期檢查維護(hù):每次測試前檢查探針表面是否有氧化、磨損等情況,及時(shí)清潔或更換。不使用時(shí),將探針存放在干燥、陰涼、通風(fēng)良好的環(huán)境中,避免陽光直射和高溫潮濕,可使用專門的探針盒或包裝進(jìn)行保護(hù)。